Hot Disk技術(shù)
發(fā)表時間：2019-09-08
現(xiàn)有的瞬態(tài)平面熱源(TPS)方法可以在一次測量中快速、準確、無損地檢測大多數(shù)材料的導熱系數(shù)、熱擴散系數(shù)和比熱容。導熱系數(shù)和熱擴散系數(shù)是直接測定的，而比熱是通過前兩個結(jié)果計算得出。
TPS方法的一個關(guān)鍵是它是絕對的方法，不需要重復(fù)校準或使用標準樣品。它是高度靈活的，只需要一到兩件樣品來測試，每件僅需要一個適用于Hot Disk雙螺旋傳感器的平面。利用Hot Disk熱導儀，樣品可以按原樣進行測試，不需要固定的樣品幾何形狀，接觸劑或表面修改。
為了強調(diào)這項技術(shù)的穩(wěn)健性，許多解釋和評估這項技術(shù)的論文已經(jīng)在多個科學期刊上發(fā)表。自2008年以來，該方法完成了ISO 22007-2標準，并在過去的幾年中提交和接受了數(shù)以千計的文獻利用Hot Disk系統(tǒng)獲得結(jié)果。
在本節(jié)中，我們將簡要介紹Hot Disk AB的歷史。此外，還會介紹和鏈接關(guān)鍵文獻。我們一直致力于讓我們的用戶，現(xiàn)在和未來，更好地理解強大的Hot Disk技術(shù)及其帶來的優(yōu)勢。
